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高深宽比沟槽的薄膜填充方法

摘要

本发明提供一种高深宽比沟槽的薄膜填充方法,包括:提供一衬底,在所述衬底上沉积被刻蚀层,在所述被刻蚀层中形成高深宽比的沟槽或通孔;沉积第一介电层薄膜或第一金属层薄膜,所述第一介电层薄膜或第一金属层薄膜完全填充所述沟槽或通孔;当所述第一介电层薄膜或第一金属层薄膜位于所述沟槽或通孔外的部分存在空洞时,进行第一次化学机械抛光、干法刻蚀或者湿法刻蚀,以去除所述空洞;在第一次化学机械抛光、干法刻蚀或者湿法刻蚀后的界面上沉积第二介电层薄膜或第二金属层薄膜。本发明能够去除高深宽比的沟槽或通孔薄膜填充工艺中出现的位于沟槽或通孔之外的介电层或金属层薄膜空洞并改变薄膜电学性能。

著录项

  • 公开/公告号CN112133673A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201910552443.4

  • 发明设计人 王雷;刘鲁萍;

    申请日2019-06-25

  • 分类号H01L21/762(20060101);

  • 代理机构11667 北京兰亭信通知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵永刚

  • 地址 311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室

  • 入库时间 2023-06-19 09:18:22

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