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一种电子组件老化测试系统、方法

摘要

本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法,属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括:电子组件老化测试架,电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位;控制单元;机械手,与控制单元电连接,用于抓取电子组件;视觉识别系统,与控制单元电连接,用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息;电子组件预安装位置标记读取装置,与控制单元电连接,用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取,获取电子组件的预安装位置信息;老化测试仪器,与控制单元电连接,在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化,提高老化测试的可靠性且实现无人职守。

著录项

  • 公开/公告号CN112098753A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电测量研究所;

    申请/专利号CN202010953086.5

  • 申请日2020-09-11

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101);G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴佳

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号59楼

  • 入库时间 2023-06-19 09:13:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-16

    授权

    发明专利权授予

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