封面
声明
中文摘要
英文摘要
目录
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 功放老化的意义
1.3 国内外研究现状
1.4 本文的研究内容
1.5 本论文的结构
第二章 电子设备老化
2.1 产品的早期失效
2.2 电子产品高温老化原理
2.3 老化的相关因素
第三章 功放加载老化系统需求及设计方案
3.1 功放老化需求
3.2 老化系统功能需求
3.3 系统架构设计方案
3.4 老化流程设计方案
3.5 作者完成的工作
第四章 功放加载老化系统硬件设计
4.1 核心小系统设计及实现
4.2 CPLD 设计及实现
4.3 数据采集设计及实现
4.4 频综设计及实现
4.5 风扇控制设计及实现
4.6 通信接口设计及实现
4.7 电源设计及实现
4.8 老化控制板整体实现
第五章 功放加载老化系统软件设计
5.1 老化过程软件控制流程
5.2 CPLD 逻辑设计与实现
5.3 BSP 软件实现
第六章 功放加载老化系统测试及效果评估
6.1 系统测试及结果
6.2 系统性能评估
第七章 总结与展望
7.1 全文工作总结
7.2 进一步工作展望
致谢
参考文献
研究成果
附录 A