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一种功放加载老化测试系统的设计与实现

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第一章 绪论

1.1 引言

1.2 功放老化的意义

1.3 国内外研究现状

1.4 本文的研究内容

1.5 本论文的结构

第二章 电子设备老化

2.1 产品的早期失效

2.2 电子产品高温老化原理

2.3 老化的相关因素

第三章 功放加载老化系统需求及设计方案

3.1 功放老化需求

3.2 老化系统功能需求

3.3 系统架构设计方案

3.4 老化流程设计方案

3.5 作者完成的工作

第四章 功放加载老化系统硬件设计

4.1 核心小系统设计及实现

4.2 CPLD 设计及实现

4.3 数据采集设计及实现

4.4 频综设计及实现

4.5 风扇控制设计及实现

4.6 通信接口设计及实现

4.7 电源设计及实现

4.8 老化控制板整体实现

第五章 功放加载老化系统软件设计

5.1 老化过程软件控制流程

5.2 CPLD 逻辑设计与实现

5.3 BSP 软件实现

第六章 功放加载老化系统测试及效果评估

6.1 系统测试及结果

6.2 系统性能评估

第七章 总结与展望

7.1 全文工作总结

7.2 进一步工作展望

致谢

参考文献

研究成果

附录 A

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摘要

随着电子技术的发展,一个好的电子设备不但要求有较高的性能指标,而且还要具备较高的稳定性和可靠性。作为无线通信设备中的重要组成部分,功放,即射频功率放大器同样需要进行可靠性测试,而采用高温循环冲击老化是对功放可靠性测试和筛选的重要方法。本文针对现有功放老化方式兼容性差及不能完全还原功放真实工作状态的问题,设计并实现了一种新型的可加载多频段信号的功放老化系统。
  本功放老化系统可以对不同型号的功放提供频率范围在400MHz~2500MHz的单音信号和功放运行所需的电源电压,并可以对功放的老化温度、老化电流、输出功率等数据进行采集,在对这些数据进行分析处理后,老化系统可以对功放的老化状态进行控制和调整,并将结果送显。
  本功放老化系统分为:计算机监控软件、BSP软件(板级支持包)、老化控制板、CPLD逻辑程序四部分,其中老化控制板提供了整个老化系统的硬件电路支撑平台,计算机监控软件、BSP软件和CPLD逻辑程序三部分配合完成对老化系统运行流程的控制。本文在介绍功放加载老化系统整体架构的基础上,详细描述了老化控制板硬件单板和CPLD逻辑程序这两个由作者负责开发部分的具体设计和实现,并对CPLD逻辑程序进行了仿真验证及测试,结果证明代码功能满足设计要求。

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