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公开/公告号CN112098754A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-18
原文格式PDF
申请/专利权人 北京无线电测量研究所;
申请/专利号CN202010954067.4
发明设计人 冯吉祥;张奇勋;侯佳赞;李世华;刘冬冬;王智慧;韩策;卢子琦;
申请日2020-09-11
分类号G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101);G01B11/00(20060101);
代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;
代理人吴佳
地址 100854 北京市海淀区永定路50号59楼
入库时间 2023-06-19 09:13:40
机译: 在进行老化测试时改变老化测试室内的半导体器件的温度和电子负载条件的方法和装置
机译: 可以通过暴露至少一种气候应力来进行材料的老化测试的装置和方法,可以与机械招标相关联
机译: 用于电子电路板的测试夹持装置,用于安装用于老化测试的集成电路
机译:无铅BGA组件的可靠性:加速老化测试与有限元仿真之间的相关性
机译:光化学老化测试装置
机译:电力电子老化测试中能量回收器的比较研究
机译:用于高温电子设备的SiC组件在200°C下的功率循环老化测试
机译:利用基于温度和压力的加速老化测试评估聚烯烃土工合成材料的氧化行为。
机译:太阳镜老化测试中太阳辐照度和太阳模拟器的等效性
机译:评估经过多次老化测试的商用电力电子组件的寿命并确定故障机理
机译:爱国者库存可靠性有限寿命组件测试和评估:行波管的存储/老化测试计划(9p / N 11448369)。修订版B