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一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置

摘要

本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置,属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端,电子组件老化测试座包括:基座;安装座,滑动安装在基座上,安装座上设有安装腔体;测试输出对接座,连接在基座上,测试输出对接座上设有输出对接插头;伸缩机构一,一端连接在基座上,另一端与安装座连接;测试输入对接座,正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧,测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头,且测试输入对接插头与信号源电连接;伸缩机构二,一端连接在安装座上,另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件,且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN112098754A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电测量研究所;

    申请/专利号CN202010954067.4

  • 申请日2020-09-11

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R1/04(20060101);G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴佳

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号59楼

  • 入库时间 2023-06-19 09:13:40

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