一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法

摘要

本发明公开了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法，包括如下过程：(1)首先进行指标体系划分；(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环，且每个测试节点均设置各自的体系锁；(3)分别从各个不同测试节点开始，同时启动测试线程；(4)测试线程完成当前测试节点的指标体系测试后立即释放体系锁，其他测试线程可对释放的指标体系重新进行锁定测试；(5)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次完成各个指标体系的测试。本发明所公开的方法将测试资源循环、交错使用，可以实现射频芯片的高速并行测试，在降低软件设计难度的前提下具有极高的硬件资源利用率，并具有开发维护过程便捷、资源成本低等特点。