首页> 中国专利> 在物理气相沉积腔室中沉积的层中的电阻区(RA)控制

在物理气相沉积腔室中沉积的层中的电阻区(RA)控制

摘要

本文提供了将介电氧化物层沉积在PVD腔室中设置的或经由PVD腔室处理的一个或多个基板顶部的方法。在一些实施方式中,此种方法包括:在源材料处于第一磨蚀状态时并且在将第一量的RF功率提供到靶组件时将源材料从靶组件溅射到第一基板上,以将介电氧化物层沉积到具有期望电阻区的第一基板上;以及随后在源材料处于第二磨蚀状态时并且在将第二量的RF功率提供到靶组件时将源材料从靶组件溅射到第二基板上,其中第二量的RF功率低于第一量的RF功率达经计算以维持期望电阻区的预定量。

著录项

  • 公开/公告号CN112020572A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201980019611.1

  • 发明设计人 汪荣军;王晓东;杜超;

    申请日2019-03-20

  • 分类号C23C14/34(20060101);C23C14/08(20060101);C23C14/04(20060101);C23C14/22(20060101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国;赵静

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 09:03:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-16

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号