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一种基于TSV工艺的三维堆叠结构及制作方法

摘要

本发明公开了一种基于TSV工艺的三维堆叠结构,包括:第一芯片,所述第一芯片具有第一芯片焊盘和第一介质层;第二芯片,所述第二芯片具有第二芯片焊盘和第二介质层,所述第二芯片通过所述第二介质层所在表面键合至所述第一芯片的所述第一介质层表面;第一导电硅通孔,所述第一导电硅通孔电连接至所述第一芯片焊盘;第二导电硅通孔,所述第二导电硅通孔电连接至所述第二芯片焊盘;外接焊盘,所述外接焊盘电连接至所述第一导电通孔、第二导电通孔;以及外接焊球,所述外接焊球设置在所述外接焊盘上。

著录项

  • 公开/公告号CN111834312A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010743580.9

  • 发明设计人 张春艳;曹立强;孙鹏;杜杰;

    申请日2020-07-29

  • 分类号H01L23/48(20060101);H01L23/485(20060101);H01L23/488(20060101);H01L21/768(20060101);H01L21/60(20060101);H01L25/18(20060101);H01L25/065(20060101);

  • 代理机构31313 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张东梅

  • 地址 214028 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋

  • 入库时间 2023-06-19 08:41:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-31

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L23/48 专利申请号:2020107435809 申请公布日:20201027

    发明专利申请公布后的驳回

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