一种辐射环境下CPU失效仿真方法

摘要

该发明公开了一种辐射环境下CPU失效仿真方法，属于可靠性实验、建模仿真与计算技术领域。解决了迫于试验周期和经济成本等因素的制约，整个评估体系将面临电源系统组件未能完全失效、试验对象数量有限、退化数据样本较少等一系列问题。本发明通过simulink仿真出驱动SIP电路中CPU板在辐射环境下的失效模型，通过误码率来度量其失效的过程，为解决在辐射环境这种苛刻条件下的实验时条件不足，数据缺乏等问题提供了更多的可行性和操作性，也为其他电路源件在特殊环境下的工作和失效机理的模型仿真研究提供了一些思路。