基于测试授权验证的低开销加密芯片可测试性设计结构

摘要

本发明涉及了一种基于测试授权验证的保护加密芯片免受扫描攻击的低开销可测试性设计结构。在常规扫描设计结构的基础上，该安全的可测试性设计结构引入了测试授权验证逻辑，并借助于扫描链暂存测试授权密钥，要求在测试时先从向扫描链中加载测试授权密钥。只有加载了正确的试授权密钥，芯片测试才能正常进行。如果攻击者不了解正确的测试流程、没有正确的试授权密钥，那么他就不能在规定的时间内向扫描链中加载正确的测试授权密钥，从而不能从输出端观测到扫描链真实的状态，也就无法开展基于扫描的非入侵式攻击。本发明在不影响电路性能和测试质量的前提下，能够抵御各种基于扫描的非入侵式攻击。