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晶片缺陷检查及审查系统

摘要

本发明揭示成像物镜及配备有此类成像物镜的检查系统。所述成像物镜可包含前物镜,所述前物镜经配置以产生受衍射限制的中间图像。所述成像物镜还可包含中继器,所述中继器经配置以接收由所述前物镜产生的所述中间图像。所述中继器可包含三个球面镜,所述球面镜经定位以将所述中间图像的投影传递到固定图像平面。

著录项

  • 公开/公告号CN109073565A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201780020550.1

  • 发明设计人 张时雨;

    申请日2017-01-30

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 07:54:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/95 申请日:20170130

    实质审查的生效

  • 2018-12-21

    公开

    公开

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