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使用激光退火利用固相外延形成用于鳍式FET的源极和漏极的方法

摘要

本文公开的方法涉及使用激光退火利用固相外延形成用于鳍式FET的源极和漏极的方法。所公开的方法包括用具有与第一掺杂相反的第二掺杂的掺杂非晶硅(a‑Si)或非晶硅锗(a‑SiGe)替代具有侧壁和第一掺杂的鳍式FET结构的源极区段和漏极区段的顶部部分,并且延伸高于侧壁。所公开的方法还包括进行a‑Si或a‑SiGe的亚熔化激光退火以分别形成c‑Si或c‑SiGe从而限定鳍式FET的源极区和漏极区。去除未转化的a‑Si或a‑SiGe。如此形成的源极区和漏极区包括延伸超过所述侧壁的顶部的扩展区域部分。

著录项

  • 公开/公告号CN108735606A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 超科技公司;

    申请/专利号CN201810356713.X

  • 发明设计人 迈克尔·H·威尔曼;

    申请日2018-04-20

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L21/268(20060101);H01L21/8238(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人谭冀

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-06-19 06:58:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-02

    公开

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