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一种改善晶体质量的GaN基LED外延底层生长方法

摘要

一种改善晶体质量的GaN基LED外延底层生长方法,在MOCVD生长炉的反应室内在蓝宝石衬底上生长低温GaN缓冲层,对低温GaN层高温烘烤,再生长GaN成核层;然后依次生长非掺杂GaN层、n型GaN层、多量子阱层、p型AlGaN层、p型GaN层和p型GaN电极接触层。上述生长方法将会对衬底和外延之间的晶格失配产生影响,改变外延片的应力分布从而改变生长过程中的翘曲程度,并且提高了高温条件下生长GaN薄膜的结晶质量并且改善均匀性,使得整个LED外延层的结构质量更高,结构缺陷的减少使得载流子辐射性复合几率增加而提高了亮度,低生产成本,提高生长质量,最终提高GaN基LED器件的发光效率。

著录项

  • 公开/公告号CN108630787A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东浪潮华光光电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201710180102.X

  • 发明设计人 李毓锋;马旺;王成新;徐现刚;

    申请日2017-03-22

  • 分类号

  • 代理机构济南日新专利代理事务所;

  • 代理人王书刚

  • 地址 261061 山东省潍坊市高新区金马路9号

  • 入库时间 2023-06-19 06:44:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L33/00 申请公布日:20181009 申请日:20170322

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2018-11-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/00 申请日:20170322

    实质审查的生效

  • 2018-10-09

    公开

    公开

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