芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法

摘要

本发明提供了一种芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，涉及芯片测试技术领域，该芯片测试方法，芯片预先设置有测试模式；包括：启动芯片的测试模式；在测试模式下，芯片可输出同步信号，用于端口信号的同步，且芯片的状态寄存器映射至数字IO；根据同步信号采集端口输出的参数数据；扫描数字IO获取状态寄存器的状态数据；分别根据参数数据和状态数据确定芯片是否工作正常。本发明实施例提供的芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，在测试模式测试机台可根据同步信号抓取高速端口参数数据，完成参数测试；并且可以直接扫描数字IO引脚查看芯片状态，无需再读取内部寄存器，降低测试难度和减少测试时间。