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一种用于电子元器件的硅基铁电夹心结构及其制备方法

摘要

本发明涉及一种用于电子元器件的硅基铁电夹心结构的制备方法,首先制备PZT和PT先驱溶胶备用,在单晶硅衬底上生长二氧化硅,再在溅射一层金属Pt/Ti层作底层电极,在其上旋涂一层PT溶胶,再旋涂一层PZT溶胶,最后在铁电薄膜表面旋涂一层正胶,光刻,溅射一层金属Pt/Ti层,正胶剥离形成顶层电极,即得本发明的用于电子元器件的夹心结构。本发明方法降低了铁电薄膜的退火温度,从而提高了铁电薄膜的制备工艺与微电子工艺的兼容性。

著录项

  • 公开/公告号CN1119837C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN00105549.6

  • 发明设计人 任天令;张林涛;刘理天;李志坚;

    申请日2000-03-31

  • 分类号H01L41/22;H01L41/16;C04B35/01;C04B35/622;

  • 代理机构北京清亦华专利事务所;

  • 代理人罗文群

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-03

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2003-08-27

    授权

    授权

  • 2000-09-27

    公开

    公开

  • 2000-08-30

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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