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倾斜波面干涉测量非球面中的参数确定方法

摘要

本发明属于光学精密测试领域,具体涉及一种倾斜波面干涉测量非球面中的参数确定方法。包括如下步骤:首先根据给定的非球面方程和口径,按角度等间隔划分非球面;然后设定入射球面波的中心,利用公式计算球面波的中心对于每个节点的镜像点;然后以镜像点向对应的节点坐标位置发射光线构成反射波面,根据计算出的反射波面与参考球面波之间的相位差的分布,判断出可测量干涉条纹的分布范围,移动球面波中心的位置,重复前述过程,直到整个非球面的范围都能够被测量,即确定了所有球面波源的位置,完成了点源阵列的设计。本方法的步骤清晰、计算准确、适用范围广,使用计算机程序可以快速完成设计,计算的过程中无须采用近似估计,计算结果准确。

著录项

  • 公开/公告号CN108362202A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州科技大学;

    申请/专利号CN201810108589.5

  • 申请日2018-02-02

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 215009 江苏省苏州市高新区科锐路1号

  • 入库时间 2023-06-19 06:30:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20180202

    实质审查的生效

  • 2018-08-03

    公开

    公开

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