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一种基于深度学习的Mura缺陷等级评判方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于深度学习的Mura缺陷等级评判方法及装置,设定Mura缺陷等级标签,将Mura缺陷图像样本根据预先设定的等级一一对应上Mura缺陷等级标签,然后将Mura缺陷图像样本作为输入神经元进入网络,经过特征提取后进行训练,训练结果经过分类器后输出,得到与Mura缺陷等级标签对应的Mura缺陷图像;最后将Mura缺陷图像测试样本经过特征提取经过分类器后输出,与带有Mura缺陷等级标签的Mura缺陷图像样本特征进行比对,得到最终分类对应的Mura缺陷等级。本发明可以对面板的Mura缺陷进行准确详细的判等输出,能成功规避传统算法的局限,同时极大的降低了人力成本。

著录项

  • 公开/公告号CN108171707A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201810065452.6

  • 发明设计人 陈武;张胜森;邓标华;

    申请日2018-01-23

  • 分类号

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人鲁力

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

  • 入库时间 2023-06-19 05:42:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20180123

    实质审查的生效

  • 2018-06-15

    公开

    公开

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