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具有集成MOS二极管的碳化硅MOSFET

摘要

采用栅极‑源极短路模式的单片集成MOS沟道作为功率MOSFET的第三象限传导路径的二极管。MOS二极管和MOSFET可以构造成包括分裂单元和沟槽的各种配置。器件可以由碳化硅、氮化镓、氮化铝、氮化铝镓、金刚石或类似的半导体形成。MOS二极管的低存储电容和低拐点电压可以通过多种方式实现。MOS二极管可以用沟道迁移率增强材料来实现,并且/或者具有非常薄的/高的介电常数的栅极电介质。MOSFET栅极导体和MOS二极管栅极导体可以由掺杂有相反掺杂剂类型的多晶硅制成。MOS二极管电介质的表面可以被注入铯。

著录项

  • 公开/公告号CN107924950A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国联合碳化硅公司;

    申请/专利号CN201680047387.3

  • 发明设计人 阿努普·巴拉;莱昂尼德·富尔辛;

    申请日2016-03-10

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人王萍

  • 地址 美国新泽西州

  • 入库时间 2023-06-19 05:03:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20160310

    实质审查的生效

  • 2018-04-17

    公开

    公开

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