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一种固体所含杂质浓度的测量系统及测量方法

摘要

本发明涉及一种固体所含杂质浓度的测量系统及测量方法,测量系统包括:自旋电子磁性传感器、磁场产生装置和控制器,磁场产生装置位于自旋电子磁性传感器的侧面,并与自旋电子磁性传感器相距预设距离;自旋电子磁性传感器探测磁场产生装置产生的磁场的初始磁场强度;待测量固体设置在自旋电子磁性传感器的表面上;自旋电子磁性传感器探测当前磁场强度;控制器根据预设的磁场强度与固体中杂质浓度的对应关系,以及初始磁场强度和当前磁场强度,确定待测量固体中杂质的浓度值。利用本发明的测量系统对待测量固体中杂质的浓度值进行测量时,操作简单,易于实现,且能提高检测效率和检测精度。

著录项

  • 公开/公告号CN107807142A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201711014471.8

  • 申请日2017-10-26

  • 分类号G01N24/08(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明;顾炜

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 04:46:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N24/08 申请日:20171026

    实质审查的生效

  • 2018-03-16

    公开

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