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自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路

摘要

本发明提供一种自动测试样式生成的电路建模方法、非暂态计算机可读存储介质以及自动测试样式生成电路,该电路包含:处理器;以及非暂态计算机可读存储介质,其上包含储存的指令,该些指令在由处理器运行时,执行自动测试样式生成的电路建模方法,该电路建模方法包含:接收一电路的模拟电路表示;以及通过用开关替换该模拟电路表示的模拟电路元件并将该电路中的错误建模为开关,产生该电路的开关级表示。因为本发明的自动测试样式生成的电路建模方法以及自动测试样式生成电路与非暂态计算机可读存储介质能够更高效地生成电路的自动测试样式。

著录项

  • 公开/公告号CN107797051A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联发科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201710761584.8

  • 发明设计人 陈海力;

    申请日2017-08-30

  • 分类号

  • 代理机构北京万慧达知识产权代理有限公司;

  • 代理人王蕊

  • 地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区笃行一路一号

  • 入库时间 2023-06-19 04:45:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R31/3185 申请公布日:20180313 申请日:20170830

    发明专利申请公布后的撤回

  • 2018-04-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3185 申请日:20170830

    实质审查的生效

  • 2018-03-13

    公开

    公开

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