含存储器数字电路系统的自动测试生成

摘要

已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成.该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型, RAM利用新建立的RAMBIT基元等效成利于测试的时序电路模型.将其应用于ATPG软件中,解决了含存储器数字电路的自动测试生成问题.