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一种气体团簇离子束质谱的测量方法和装置

摘要

本发明提供了一种气体团簇离子束质谱的测量方法,将团簇离子通过静电电容器形成离子束脉冲,将离子束脉冲喷射至与场效应晶体管(FET)源跟随器连接的法拉第杯,利用示波器测量离子束脉冲中不同质量的团簇离子各自产生的信号,利用TOF质谱分析法获得团簇离子的TOF质谱。本发明同时提供了一种基于所述测量方法的气体团簇离子束质谱的测量装置,包括用于接收离子束脉冲的法拉第杯、与法拉第杯连接的场效应晶体管源跟随器和示波器。本发明通过使用场效应晶体管作为源跟随器,以及场效应晶体管和法拉第杯直接相连的特殊设计来减少探测器的时间常数,从而有效提高探测器响应灵敏度,进而提高质谱分辨率,获得完美的离子束质谱。

著录项

  • 公开/公告号CN107677723A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 付德君;

    申请/专利号CN201710872061.0

  • 申请日2017-09-25

  • 分类号

  • 代理机构武汉华旭知识产权事务所;

  • 代理人邱琳

  • 地址 443500 湖北省宜昌市长阳创新产业园88号

  • 入库时间 2023-06-19 04:30:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/68 申请日:20170925

    实质审查的生效

  • 2018-02-09

    公开

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