半导体存储器件及其弱单元检测方法

摘要

一种半导体存储器件，包括：多个存储块；多个位线感测放大器，所述位线感测放大器被所述多个存储块中相邻的存储块共享，并且适用于感测并放大经由位线从耦接至被激活的字线的存储单元读取的数据，以及经由多个分段数据线输出放大数据；字线驱动器，所述字线驱动器适用于在测试模式期间激活不共享所述位线感测放大器的存储块的字线；以及弱单元检测电路，所述弱单元检测电路适用于：在所述测试模式期间，压缩经由所述多个分段数据线传输的所述放大数据以产生压缩数据，以及基于所述压缩数据来检测弱单元。