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无;
不详;
PXI平台; 单元模块; 参数测量; 生产测试; 设备成本; 半导体; NIP; 功能;
机译:NI借助基于PXI的测试系统降低了自动化半导体测试系统的成本
机译:PXI平台上的半导体和功能测试系统
机译:与车载半导体的发展相对应:同时测量许多复杂的高性能设备,缩短测试时间/降低成本
机译:使用可扩展的参数测量宏来改善半导体技术特性和产品测试
机译:降低制造测试成本的技术:测试模式选择,测试压缩和测试计划
机译:自旋电子学行为的发生(半金属性自旋无间隙半导体和双极磁性半导体)取决于BiFe0.83Ni0.17O3中氧空位的位置
机译:这项研究的背景是,在印度尼西亚航空高中Curug Tangerang的文凭III飞机工程学习计划(TPU学习计划)的学习飞机系统故障排除的学生中,无故障性能的表现很差。由于旨在提供学习经验的学习旨在采取正确的步骤对飞机系统进行故障排除而没有模块指导的故障,因此该学习受模拟器准备情况,学生准备情况和模块有效性的因素影响。初步研究表明,成绩不佳的原因是该模块无法指导学生正确无误地进行故障排除。这项研究的目的是确定学习疑难解答的当前状态,设计可以提高无故障性能的学习模块,制定学习步骤,进行无故障性能评估,并分析使用学习模块的影响。使用研究与开发方法论,通过初步研究,模块的计划和准备以及模块的开发和测试三个主要研究阶段,对11个批次III文凭III的56名学生进行了研究,直到发现有效地改善无故障性能的模块。更广泛的试验结果。通过与讲师的访谈,课程文件和模块的学习文件,对学生的问卷调查,学习结果测试和实际观察来进行数据收集。研究结果是一个有效的学习模块,可提高无限制性能,这是通过在有限且较宽的测试中通过统计计算t-计数t-t表显示的结果以及在每个试验阶段的平均值均得到提高而得出的。这一增加表明,新模块内容的开发将通过增加故障排除中子能力的实现,即识别损坏,确定损坏程度,消除损坏以及修理或更换零件,从而对提高无故障性能的实现产生重大而有效的影响。
机译:用于半导体参数测量课程的NmOs测试芯片
机译:数字传输路径质量参数测量-使用带有测试单元序列的测量信号,每个测试单元均包含二进制测试模式
机译:半导体器件ROM,一种操作方法,涉及在正常操作模式下将设备的引脚作为应用功能引脚进行操作,其中该引脚分别在两种测试操作模式下分别作为测试引脚和应用功能引脚进行操作
机译:用于s11参数测量的半导体存储设备,用于半导体存储设备的s11参数测量的测试板以及用于测量半导体存储设备的s11参数的方法
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