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抗辐射CMOS传输门及包含其的CMOS电路

摘要

本发明公开一种抗辐射CMOS传输门,其包括两个串联连接的传输门。其中,两个传输门中的PMOS管和NMOS管的衬底分别相连并悬空。本发明还公开一种包括上述CMOS传输门的CMOS电路。在本发明中,当在辐照条件或者单粒子效应条件下传输门中输入端的电压稍高于电源电压时,电流不会灌入电源或者地中,保证了传输门的正常工作,提高了抗辐射能力,使得传输门及包含该传输门的CMOS电路满足在辐射环境中的使用要求。

著录项

  • 公开/公告号CN107181483A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710413857.X

  • 发明设计人 雒兴明;刘刚;张薇;

    申请日2017-06-05

  • 分类号

  • 代理机构北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人付生辉

  • 地址 101111 北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号

  • 入库时间 2023-06-19 03:23:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03K19/0948 申请日:20170605

    实质审查的生效

  • 2017-09-19

    公开

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