公开/公告号CN106783860A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-31
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉新芯集成电路制造有限公司;
申请/专利号CN201611191660.8
申请日2016-12-21
分类号H01L27/115;H01L29/423;
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人屈蘅
地址 430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
入库时间 2023-06-19 02:26:06
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-15
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L27/115 申请公布日:20170531 申请日:20161221
发明专利申请公布后的驳回
2017-06-23
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20161221
实质审查的生效
2017-05-31
公开
公开
机译: 通过在活动区域隔离浮栅图案来制造能够防止由于浮栅图案残留而导致的浮栅图案残留的闪存装置的制造方法
机译: 利用自对准浅沟槽隔离形成闪存器件浮栅的方法,以提高工艺的可靠性和电气性能
机译: 具有沟槽隔离结构和自对准浮栅的浮栅半导体器件的制造方法