首页> 中国专利> 宏观自动检查机及提升显示异常区域量测效率的方法

宏观自动检查机及提升显示异常区域量测效率的方法

摘要

本发明涉及一种宏观自动检查机及提升显示异常区域量测效率的方法,涉及液晶面板技术领域,解决了现有技术中存在的测量显示异常区域区域密集点的时间长、显示异常区域标记的精度及准确性低以及其它安全性差的技术问题。宏观自动检查机包括标记单元,通过标记单元能够自动完成对基板上显示异常区域的标记,以减少宏观自动检查机的观测时间,更进一步的缩短测量显示异常区域区域密集点的时间,并能使标记的精度及准确性大大提高,还能提高操作的安全性和可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN106773189A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201710187202.5

  • 发明设计人 黄勇;

    申请日2017-03-27

  • 分类号G02F1/13(20060101);

  • 代理机构11372 北京聿宏知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴大建

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

  • 入库时间 2023-06-19 02:16:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20170327

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号