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光学量测系统、提升干涉图像品质以及量测圆柱度的方法

摘要

本发明提供一种光学量测系统、提升干涉图像品质以及量测圆柱度的方法,光学量测系统包括光学量测单元以及图像处理单元。光学量测单元包括光源、分光镜、反射件以及光接收器。图像处理单元耦接于光接收器并获取干涉图像。在改变待测表面被来自光源的光束照射的位置时,图像处理单元获取对应待测表面被光束照射的多个位置的多个干涉图像,并依据各干涉图像中干涉条纹的变化量去计算待测表面的位置的高低变化,从而推得待测物的圆柱度,因此,具有量测速度快、方便携带以及不会刮伤待测物的待测表面等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN106855396A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 财团法人金属工业研究发展中心;

    申请/专利号CN201510900957.6

  • 发明设计人 侯博勋;陈嘉昌;

    申请日2015-12-09

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人马雯雯;臧建明

  • 地址 中国台湾高雄市楠梓区高楠公路1001号

  • 入库时间 2023-06-19 02:35:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-26

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/24 申请公布日:20170616 申请日:20151209

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20151209

    实质审查的生效

  • 2017-06-16

    公开

    公开

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