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用于集成电路的薄膜电阻设备,包括薄膜电阻设备的集成电路

摘要

本发明公开用于集成电路的薄膜电阻设备,包括薄膜电阻设备的集成电路。如薄膜电阻传感器通常包括多个电阻元件。这些部件应当良好匹配,以便传感器提供准确的读数。当传感器结合在集成电路内时,电阻元件可以形成在形成其它部件的一部分的金属迹线上方或下方。结果,薄膜电阻部件经受不同水平的应力。本公开提供了一种被布置为减轻应力的影响的结构。

著录项

  • 公开/公告号CN106684078A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 亚德诺半导体集团;

    申请/专利号CN201610995575.0

  • 发明设计人 J·库比克;S·P·威斯顿;P·M·朵兰;

    申请日2016-11-11

  • 分类号H01L27/00(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人刘倜

  • 地址 百慕大群岛(英)哈密尔顿

  • 入库时间 2023-06-19 02:13:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

  • 2017-06-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/00 申请日:20161111

    实质审查的生效

  • 2017-05-17

    公开

    公开

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