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通过约束来进行的硅化物相控制

摘要

本文所述的实现方式大体涉及金属硅化物的选择性沉积的方法。更具体地,本文所述的实现方式大体涉及形成用于半导体应用的硅化镍纳米线的方法。在一个实现方式中,提供一种处理基板的方法。所述方法包括以下步骤:在基板表面上形成含硅层;在所述含硅层上形成含金属层,所述含金属层包含过渡金属;在所述含金属层的暴露的表面上形成约束层;以及在低于400摄氏度的温度下使所述基板退火,以便从所述含硅层和所述含金属层形成金属硅化物层,其中所述约束层抑制富金属的金属硅化物相的形成。

著录项

  • 公开/公告号CN106558474A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201610848019.0

  • 申请日2016-09-23

  • 分类号H01L21/02;H01L21/324;

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人侯颖媖

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 01:55:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20160923

    实质审查的生效

  • 2017-04-05

    公开

    公开

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