首页> 中国专利> 一种带杂质分凝的复合源MOS晶体管及其制备方法

一种带杂质分凝的复合源MOS晶体管及其制备方法

摘要

本发明提供了一种结合杂质分凝肖特基和带带隧穿的复合源MOS晶体管及其制备方法,该复合源MOS晶体管包括一个控制栅电极层、一个栅介质层、一个半导体衬底、一个高掺杂源区和一个高掺杂漏区,控制栅的一端向高掺杂源区延展成T型,延展出来的栅区为延展栅,原控制栅区为主栅,高掺杂源区由半导体高掺杂形成,位于延展栅的沿有源区宽度方向的两侧,在高掺杂源区远离沟道方向的一侧连接一个带杂质分凝的肖特基源区。本发明与现有的MOSFET相比,在同样的工艺条件,同样的有源区尺寸下可以得到更高的导通电流、更低的泄漏电流以及更陡直的亚阈值斜率。

著录项

  • 公开/公告号CN102117834B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201110021486.3

  • 发明设计人 黄如;黄芊芊;詹瞻;王阳元;

    申请日2011-01-19

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/423(20060101);H01L29/08(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11360 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人贾晓玲

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-19

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 29/78 变更前: 变更后: 登记生效日:20130529 申请日:20110119

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-12-19

    授权

    授权

  • 2012-05-16

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 29/78 变更前: 变更后: 申请日:20110119

    著录事项变更

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20110119

    实质审查的生效

  • 2011-07-06

    公开

    公开

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