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一种高精度Xe介质放电等离子体极紫外光刻光源光谱标定的方法

摘要

一种高精度Xe介质放电等离子体极紫外光刻光源光谱标定的方法,涉及光谱识别领域。本发明是为了解决现有的采用Hg灯对8nm~20nm范围内的线状谱进行标定,谱线的标定准确性差,导致对光谱的识别性差的问题。本发明第一步采用真空紫外阴极灯对罗兰圆谱仪进行初步标定,工作气体为He气;第二步采用He气和Ar气介质毛细管放电机制工作,通过He气和Ar气的线状谱对罗兰圆谱仪进行精确地标定。它用于对光谱进行标定。

著录项

  • 公开/公告号CN106092317A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201610415737.9

  • 发明设计人 徐强;赵永蓬;王骐;

    申请日2016-06-07

  • 分类号G01J3/20;

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人岳泉清

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 00:52:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J3/20 申请公布日:20161109 申请日:20160607

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-12-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/20 申请日:20160607

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    公开

    公开

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