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制造包括金属氮化物层的半导体器件的方法和半导体器件

摘要

本发明涉及制造包括金属氮化物层的半导体器件的方法和半导体器件。制造半导体器件的方法包括将氮引入到金属层中或引入到金属氮化物层中,金属层或金属氮化物层被形成为与半导体材料接触。半导体器件包括半导体材料以及与半导体材料接触的金属氮化物层。金属氮化物具有大于金属氮化物中氮的溶解度限制的氮含量。

著录项

  • 公开/公告号CN105719967A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201510947758.0

  • 发明设计人 J.P.康拉特;R.舍尔纳;H-J.舒尔策;

    申请日2015-12-17

  • 分类号H01L21/329;H01L29/47;H01L29/872;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人申屠伟进

  • 地址 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号

  • 入库时间 2023-12-18 15:49:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/329 申请公布日:20160629 申请日:20151217

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-07-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/329 申请日:20151217

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    公开

    公开

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