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SEM的LEED

摘要

一种低能电子衍射(LEED)检测模块(100),其包括:第一真空室,该第一真空室用于从样本(109)接收衍射电子;较大的第二真空室,该较大的第二真空室连接到第一真空室以接收已经通过第一真空室传输的衍射电子;二维电子检测器,该二维电子检测器设置在第二真空室中以检测衍射电子;电位屏蔽件(106),该电位屏蔽件(106)总体上沿着第一真空室的内表面和第二真空室的内表面设置;磁透镜(105),该磁透镜(105)扩展已经通过第一真空室朝向二维电子检测器传输的衍射电子束;以及总体上平面形的能量过滤器(103),该总体上平面形的能量过滤器(103)排斥具有比撞击在样本(109)上的探测电子束(203)能量低的电子。

著录项

  • 公开/公告号CN105229772A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201480028221.8

  • 发明设计人 新竹积;

    申请日2014-05-14

  • 分类号H01J37/244(20060101);G01N23/20(20060101);H01J37/295(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕俊刚;刘久亮

  • 地址 日本冲绳县

  • 入库时间 2023-12-18 13:33:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    授权

    授权

  • 2016-02-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/244 申请日:20140514

    实质审查的生效

  • 2016-01-06

    公开

    公开

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