维护辐射热测量计型检测器阵列的方法

摘要

一种用于维护辐射热测量计型检测器阵列(1)的方法包括将某些检测器加热到阈值温度。通过向电阻性检测元件供应电流来执行所述加热，且依照先前对每一检测器进行的测量而针对所述检测器确定所述阈值温度。所述方法使得可消除由辐射过度暴露或由在其制造或老化期间出现的对某些像素的热电性质的破坏引起的延续图像。所述方法不需要使用炉或珀耳贴元件，因此避免了所述加热组件不可逆地破坏上面杂交或沉积有所述检测器的读取和CMOS寻址电路的风险。