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GaN基发光二极管外延片制备方法及制备的外延片

摘要

本发明公开了一种GaN基发光二极管外延片制备方法及制备的外延片,属于半导体发光二极管领域。该方法包括:在衬底上依次生长缓冲层、n型GaN层、应力调控层、多量子阱层、p型GaN层、以及p型欧姆接触层,该应力调控层为多周期结构,生长多周期结构的每个周期包括:以第一生长温度生长一层应力调控InGaN子层,在应力调控InGaN子层生长结束后,在第二生长温度下向反应腔内通入氢气,对应力调控InGaN子层的表面进行刻蚀处理,第二生长温度与第一生长温度不同。本发明通过对应力调控InGaN子层进行上述处理,能在应力调控InGaN子层与应力调控GaN子层之间形成一个平整的接触面,防止缺陷继续延伸。

著录项

  • 公开/公告号CN104810451A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华灿光电(苏州)有限公司;

    申请/专利号CN201510209418.8

  • 申请日2015-04-29

  • 分类号H01L33/20(20100101);H01L33/32(20100101);H01L33/00(20100101);

  • 代理机构11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人徐立

  • 地址 215600 江苏省苏州市张家港市经济开发区晨丰公路

  • 入库时间 2023-12-18 10:16:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-24

    授权

    授权

  • 2015-08-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/20 申请日:20150429

    实质审查的生效

  • 2015-07-29

    公开

    公开

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