基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法

摘要

本发明公开了一种基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法，首先进行预实验以确定因素和水平，然后根据得到的因素和水平，利用中心组合设计获得实验方案，并根据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测，得到质构参数的数据，再将得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析，获得因素与质构参数的回归关系式，得到响应面图，最终确定各因素优化后的水平参数组合。本发明通过利用响应面法对珍珠粉圆质构的测定方法进行改进，改进后的方法能够更加精确地对珍珠粉圆的质构进行检测，可直接应用于珍珠粉圆的实际生产中，同时有助于生产厂家对珍珠粉圆的配方进行改进。