一种片上波形的测量机构及其在建立时序库的应用方法

摘要

本发明公开了一种片上任意波形的测量机构及其在建立时序库的应用方法，属于集成电路可制造性设计领域。片上波形测量机构由多路片上波形捕捉电路并联组成，片上波形捕捉电路由采样保持电路级联组成。片上波形捕捉电路的采样控制信号与被测波形信号之间存在频率差，从而实现对被测波形信号的测量及时域放大。片上波形测量机构工作时，关键信号使用连线长度来控制延时。利用片上波形的测量机构，实现集成电路片上单元的时序参数的测量，从而依靠物理测量的方法建立标准单元时序库。本发明在集成电路片上参数测量中具有很好的实用性。