一种基于温度差异性探针基因芯片检测方法

摘要

本发明提出了一种基于温度差异性探针基因芯片检测方法，利用两种不同荧光标记对基因芯片进行质量控制，在较低温下，目的探针与带第一荧光基团标记寡聚体序列先进行杂交，检测第一荧光基团，判断目的探针是否固定于基片上；在较高温下，目的探针与第二荧光基团标记待检测的DNA序列杂交，检测第二荧光基团，判断检测的DNA序列信息。同时使用两种荧光能快速、简便地检测目的探针是否固定在基片上，从而排除因目的探针未固定而出现的假阴性结果，提高基因检测结果的准确性及可靠性。