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基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器

摘要

一种基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器,所述细胞膜电位传感器包括场效应管漏区和场效应管源区构成的MOS场效应管,所述MOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层金属栅极结构,所述多层金属栅极结构自下而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述金属2层上设有供活体细胞培养的裸露微电极。本发明提供一种实现与标准CMOS工艺兼容、便于集成化的基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器。

著录项

  • 公开/公告号CN102520044A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江工业大学;

    申请/专利号CN201110348912.4

  • 发明设计人 施朝霞;

    申请日2011-11-07

  • 分类号G01N27/414(20060101);

  • 代理机构33201 杭州天正专利事务所有限公司;

  • 代理人王兵;王利强

  • 地址 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区

  • 入库时间 2023-12-18 05:38:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N27/414 申请公布日:20120627 申请日:20111107

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/414 申请日:20111107

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    公开

    公开

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