法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-23
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H03M1/10 授权公告日:20140101 终止日期:20141108 申请日:20111108
专利权的终止
2014-01-01
授权
授权
2012-05-02
实质审查的生效 IPC(主分类):H03M1/10 申请日:20111108
实质审查的生效
2012-03-21
公开
公开
技术领域
本发明是关于一种应用于时间域比较器的阈值失调校准方法,适用于现代先进工 艺下的模拟集成电路设计。
技术背景
比较器是模数转换器中的重要模块,其性能直接决定转换速率和精度。为适应兼 容现代先进工艺的低电压低功耗模数转换器设计需求,提出了基于脉冲宽度调制的时 间域比较器用于代替传统的电压比较器。虽然这种比较器具有由于传统电压比较器的 优点,但是同样存在阈值失调对电路设计带来的限制。为了减小阈值失调带来的影响, 常用的解决方法是增大器件的尺寸,但是会增加功耗、芯片面积和比较器输入电容的 变化,这些都违背了在低电压下设计低功耗高性能电路的设计原则。
解决比较器阈值失调的另一种方法是采用数字校准技术,这种方法的好处在于不 会增加功耗和比较器输入电容的变化,只是增加上电运行一次的数字校准电路相应的 芯片面积,在先进工艺下这部分数字电路的面积通常相对比较小的。两种代表性的做 法是:用电流源补偿阈值失调,(见参考文献Figueiredo P.M.,Cardoso P.,Lopes A.,Fachada C.,Hamanishi N.,Tanabe K.and Vital J.,“A 90nm CMOS 1.2v 6b 1GS/s two-step subranging ADC”,2006 IEEE International Solid-State Circuits Conference)但是会增加额外的功耗;改变比较器输出电容之间的比例调节 阈值,(见参考文献Giannini V.,Nuzzo P.,Chironi V.,Baschirotto A.,Van der Plas G.and Craninckx,J.,“An 820μW 9b 40MS/s Noise-Tolerant Dynamic-SAR ADC in 90nm Digital CMOS”,2008 IEEE International Solid-State Circuits Conference)但是会降低比较速度。
发明内容
本发明的目的是通过提供一种应用于时间域比较器的阈值失调校准方法,在不影 响比较器速度和不增加额外功耗的前提下,使用数字电路校准时间域比较器的阈值失 调。
本发明应用于时间域比较器的阈值失调校准方法,是采用以下技术手段实现的: 检测输入端短接的时间域比较器的输出,先调节过零检测的粗调控制字,再调节过零 检测的细调控制字,直至将阈值失调减小到校准的误差范围内。
阈值失调校准方法一次正常的工作过程包括如下几个步骤:
步骤1:重置粗调控制字和细调控制字为初始值,并且将时间域比较器的输入端短 接。
步骤2:根据比较器的结果调节相应过零检测的粗调控制字直至比较结果发生变 化。
步骤3:根据比较器的结果调节相应过零检测的细调控制字直至比较结果发生变 化。
步骤4:断开比较器的输入端,完成阈值失调的校准。
前述阈值失调校准方法的细调控制字的调节范围需要大于粗调控制字变化一次相 应的调节范围以保证冗余;阈值失调校准的精度由细调控制字变化一次相应的调节范 围决定。
本发明应用于时间域比较器的阈值失调校准方法,与现有技术相比,具有以下明 显的优势和有益效果:
本发明实现了使用数字电路校准时间域比较器的阈值失调,通过粗调和细调结合 的方法在较短的时间内完成了较高精度的调节,并且上电之后只需要工作一次,不会 增加额外功耗。
附图说明
图1为应用于时间域比较器阈值失调校准方法的流程图;
图2为采用阈值失调校准方法的时间域比较器结构框图;
图3为采用阈值失调校准方法的时间域比较器单端电路图;
图4为阈值失调校准电路的工作时序图;
图5为本发明实施例中时间域比较器阈值偏差校准前的统计直方图;
图6为本发明实施例中时间域比较器阈值偏差校准后的统计直方图;
图7为本发明实施例中时间域比较器阈值偏差校准前后对比。
符号说明:201为采样保持电路,202为放电电流源,301为冗余开关(dummy switch),302为放电电流源,303为采样电容,304为过零检测。
具体实施方法
以下结合说明书附图,对本发明的具体实施例加以说明:
请参阅图1所示,为应用于时间域比较器阈值失调校准方法的流程图。
图1中的粗调控制字和细调控制字分为A和B两组,分别对应控制时间域比较器 的两个过零检测电路。
检测输入端短接的时间域比较器的输出,先调节过零检测的粗调控制字,再调节 过零检测的细调控制字,直至将阈值失调减小到校准的误差范围内。
阈值失调校准方法一次正常的工作过程包括如下几个步骤:重置粗调控制字和细 调控制字为初始值,并且将时间域比较器的输入端短接。根据比较器的结果调节相应 过零检测的粗调控制字直至比较结果发生变化。根据比较器的结果调节相应过零检测 的细调控制字直至比较结果发生变化。断开比较器的输入端,完成阈值失调的校准。
图2为采用阈值失调校准方法的时间域比较器结构框图。
本发明实施例中使用阈值失调校准方法的时间域比较器单端电路如图3所示。其 中粗调控制字调节的是过零检测中的电阻阻值大小,细调控制字调节的是过零检测中 PMOS开关M3的衬底电压。两位粗调控制字变化一次能够调节比较器的阈值10毫伏, 四位细调控制字变化一次能够调节比较器的阈值1毫伏;因此,阈值调节的范围是40 毫伏,调节的误差在1毫伏以内。
阈值失调校准电路完成一次工作过程的时序图如图4所示。该图只是校准电路工 作中一种情况的示例,对于特定的阈值失调,只有一组粗调控制字和一组细调控制字 起作用。完成整个校准电路所需要的时钟周期随着阈值失调的差值发生变化,在本实 施例中,最长20个时钟周期即可完成校准。
粗调控制字通过改变电阻阻值大小起到调节的作用,使用一组只有一个连接其他 全部断开的PMOS开关实现;细调控制字通过一个数模转换器改变衬底电压,数模转换 器采用开关控制的电阻阵列实现。
使用蒙特卡洛仿真验证实施例中校准电路的功能。如图5所示,在没有校准阈值 失调之前,比较器阈值偏移的平均值是0.43毫伏,标准差是16.15毫伏;如图6所示, 在完成校准阈值失调之后,比较器阈值偏移的平均值是1.43毫伏,标准差是0.61毫 伏。结合图7可知,校准电路有效的减小了时间域比较器的阈值失调的标准差,如果 使用增大器件尺寸的方法不能达到这样的效果。
综上所述,本发明通过该实施例达到了设计目的,实现了基于线性脉冲宽度调制 时间域比较器阈值失调的校准,具有不影响比较器速度、不增加额外功耗、调节速度 快、调节精度高的特点。本发明并不限于上述实施例,可以在不偏离本发明的范围和 精神的情况下对其进行修改和变化。
机译: 逐步逼近寄存器模拟数字转换器的比较器失调校准方法和装置
机译: 用抖动的直流信号在比较器上校准阈值电平的方法
机译: 用抖动的直流信号在比较器上校准阈值电平的方法