首页> 中国专利> 一种用于多级存储相变存储器的纳米多层复合相变薄膜材料及其制备和应用

一种用于多级存储相变存储器的纳米多层复合相变薄膜材料及其制备和应用

摘要

本发明涉及一种用于多级存储相变存储器的Ge2Sb2Te5/Ga30Sb70纳米多层复合相变薄膜。本发明的Ge2Sb2Te5/Ga30Sb70纳米多层复合相变薄膜材料中单层Ge2Sb2Te5薄膜和单层Ga30Sb70薄膜交替排列成多层膜结构,且单层Ge2Sb2Te5薄膜的厚度和单层Ga30Sb70薄膜的厚度均为10~133nm;所述Ge2Sb2Te5/Ga30Sb70纳米多层复合相变薄膜材料的总厚度为90-200nm。本发明的Ge2Sb2Te5/Ga30Sb70纳米多层复合相变薄膜用于相变存储器中能够实现多级存储,同时具有较高的热稳定性,对数据的保持能力极强。

著录项

  • 公开/公告号CN102354729A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN201110306751.2

  • 发明设计人 沈波;孙明成;翟继卫;汪昌州;

    申请日2011-10-11

  • 分类号H01L45/00(20060101);B82Y30/00(20110101);B82Y10/00(20110101);B82Y40/00(20110101);B32B9/00(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所;

  • 代理人许亦琳;余明伟

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2023-12-18 04:21:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-11-26

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L45/00 申请公布日:20120215 申请日:20111011

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L45/00 申请日:20111011

    实质审查的生效

  • 2012-02-15

    公开

    公开

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