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宽面808nm分立模式半导体激光器结构的制备方法

摘要

本发明提供一种宽面808nm分立模式半导体激光器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:取一镓砷衬底;步骤2:在镓砷衬底上依次制备N型铝镓砷下限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、第一P型上限制层、刻蚀截至层、第二P型上限制层和P型帽层;步骤3:采用光刻技术,在P型帽层的表面制备出刻蚀的掩膜图形;步骤4:在P型帽层上向下刻蚀,形成凸起的宽面结构,同时在凸起的宽面结构上面的一侧沿纵向刻蚀形成多个非周期分布的刻槽结构,刻槽结构的刻蚀深度到达刻蚀截至层的表面,完成器件的制备。

著录项

  • 公开/公告号CN102148479A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201110052364.0

  • 发明设计人 高卓;王俊;熊聪;刘素平;马骁宇;

    申请日2011-03-04

  • 分类号H01S5/24(20060101);H01S5/343(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-18 03:00:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-01-16

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01S5/24 申请公布日:20110810 申请日:20110304

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-09-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S5/24 申请日:20110304

    实质审查的生效

  • 2011-08-10

    公开

    公开

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