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基于顶栅结构有机场效应晶体管集成电路的制备方法

摘要

本发明公开了一种基于顶栅结构有机场效应晶体管集成电路的制备方法,是通过三次光刻、三次金属沉积、一次有机半导体薄膜生长、一次绝缘介质层生长和一次绝缘介质层刻蚀,获得有机集成电路,该方法包括:在绝缘衬底上旋涂光刻胶保护层,光刻得到有机场效应晶体管的源漏电极图形,沉积金属电极;沉积生长有机半导体材料;沉积生长有机绝缘介质层;在有机绝缘层上旋涂光刻胶保护层,光刻得到用于互连的过孔的图形,以光刻胶为掩模刻蚀绝缘介质层形成过孔,沉积金属填充过孔;在有机绝缘层上旋涂光刻胶保护层,光刻得到电路互连线及有机场效应晶体管的栅电极图形,沉积金属互连线及栅电极。本发明提供的方法工艺简单、重复性好、稳定性高。

著录项

  • 公开/公告号CN101800286A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN200910077677.4

  • 发明设计人 姬濯宇;王宏;刘明;商立伟;

    申请日2009-02-11

  • 分类号H01L51/40(20060101);H01L21/027(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2023-12-18 00:35:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-02-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L51/40 公开日:20100811 申请日:20090211

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L51/40 申请日:20090211

    实质审查的生效

  • 2010-08-11

    公开

    公开

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