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利用自对准的双应力膜增强NMOSFET和PMOSFET的性能

摘要

在包括PMOSFET及NMOSFET两者的集成电路中,在使用双应力膜的这两种FETs上,载流子迁移率会增强。通过利用第二应力膜边缘到第一应力膜事先存在边缘的自对准,可消除因具有沿着不同种膜之间边界上两层应力膜的不利影响。在两应力膜之间的边界上,应力膜邻接另一应力膜,但却没有任何应力膜叠覆另一应力膜。通过避免应力膜的叠覆,将施加在MOSFET沟道上的应力最大化。

著录项

  • 公开/公告号CN101584039A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN200880002379.2

  • 发明设计人 M·库马尔;朱慧珑;

    申请日2008-01-07

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人金晓

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2023-12-17 23:01:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-14

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/8238 公开日:20091118 申请日:20080107

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-01-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-11-18

    公开

    公开

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