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现场可编程逻辑门阵列中单粒子翻转的检测方法及装置

摘要

一种现场可编程逻辑门阵列中单粒子翻转的检测方法,首先设置一个与现场可编程逻辑门阵列相连的用于实现单粒子翻转检测流程的高可靠监控单元;由高可靠监控单元执行现场可编程逻辑门阵列的配置存储器回读流程,读取现场可编程逻辑门阵列的配置帧,然后由高可靠监控单元执行通过标准NVRAM接口从非易失性存储器读取的原始配置帧;最后高可靠监控单元将现场可编程逻辑门阵列的回读配置帧与原始配置帧进行字节比对,当配置帧出现比对错误时,即判断现场可编程逻辑门阵列的配置存储器发生了单粒子翻转。该装置包括通过总线互连的高可靠监控单元和非易失性存储器。本发明具有结构原理简单、操作简便、可靠性高、稳定性好等优点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-03-23

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/317 公开日:20091021 申请日:20090515

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-12-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-10-21

    公开

    公开

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