首页> 中国专利> 半导体晶圆背面加工方法,衬底背面加工方法,和辐射固化型压敏粘着片

半导体晶圆背面加工方法,衬底背面加工方法,和辐射固化型压敏粘着片

摘要

本发明涉及半导体晶圆背面加工方法,该方法包括在半导体晶圆的正面施用辐射固化型压敏粘着片,该辐射固化型压敏粘着片包括基材膜和在该基材膜的一侧上布置的压敏粘着剂层,所述半导体晶圆的正面具有凹陷和凸出;以辐射固化型压敏粘着片附着于所述半导体的正面的状态研磨所述半导体晶圆的背面;和放射线照射所述压敏粘着片从而使所述压敏粘着剂层固化,然后使所述经过研磨的半导体晶圆的背面经历表面处理;并涉及用于所述半导体晶圆背面加工方法的辐射固化型压敏粘着片。

著录项

  • 公开/公告号CN101136329A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日东电工株式会社;

    申请/专利号CN200710142780.3

  • 发明设计人 新谷寿朗;

    申请日2007-08-23

  • 分类号H01L21/302;H01L21/304;H01L21/00;H01L21/02;H01L21/67;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘慧

  • 地址 日本大阪

  • 入库时间 2023-12-17 19:49:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-10-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/302 授权公告日:20120530 终止日期:20150823 申请日:20070823

    专利权的终止

  • 2012-05-30

    授权

    授权

  • 2009-07-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-05

    公开

    公开

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