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公开/公告号CN1930521A
专利类型发明专利
公开/公告日2007-03-14
原文格式PDF
申请/专利权人 旭硝子株式会社;
申请/专利号CN200580006953.8
发明设计人 菊川信也;日野启吾;三代均;
申请日2005-03-04
分类号G03F1/14;G03F7/20;C03C3/06;
代理机构上海专利商标事务所有限公司;
代理人沙永生
地址 日本东京
入库时间 2023-12-17 18:25:15
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-03-23
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G03F1/14 公开日:20070314 申请日:20050304
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-05-16
实质审查的生效
2007-03-14
公开
机译: 由合成石英玻璃和光掩模制成的光掩模基板
机译: 制造合成石英玻璃基板或用于光掩模的光掩模坯料的存储盒的方法
机译:Selete的EULE掩模掩模缺陷减少技术扩展到EUVL掩模的光掩模缺陷检查和修复技术即使掩模尺寸为100 nm,也可以实现高精度的检查图像对比度
机译:使用现有光掩模制造能力制造用于EUV光刻的自对准交替相移光掩模的简单方法
机译:扫描型开发技术,可提高半导体光掩模的精度:支持先进半导体器件制造的光掩模图案的精度更高
机译:关键EUV光掩模工艺步骤的离子束处理:掩模毛坯沉积和光掩模吸收剂蚀刻
机译:激光诱导氧化锌合金薄膜,用于直接写入灰度光掩模
机译:使用软光掩模在亚微米级进行接触光刻
机译:由Cr基嵌入式移位器坯料制成的衰减相移光掩模
机译:用于自动IC光掩模检测系统的实验评估的测试掩模。