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用于减少螺旋过扫描的方法和系统

摘要

提供了在使用计算机断层扫描系统(10)进行扫描期间用于控制x射线照射的方法、装置和系统。该系统包括:x射线源(14)、准直器(52)、和检测阵列(18)。该准直器包括:在第一方向上关断由x射线源产生的x射线扇束(16)的第一凸轮(81);位于x射线源焦点(50)的与第一凸轮相对的一侧的第二凸轮(82),第二凸轮在第二方向上关闭x射线扇束,第二方向与第一方向相反;和在扫描过程中定位第一凸轮和第二凸轮中至少一个的凸轮驱动器。

著录项

  • 公开/公告号CN1846620A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN200610067343.5

  • 发明设计人 T·L·托特;B·J·盖雷科维茨;

    申请日2006-02-08

  • 分类号A61B6/03(20060101);G21K1/02(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李亚非;陈景峻

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2023-12-17 17:46:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B6/03 授权公告日:20101208 终止日期:20150208 申请日:20060208

    专利权的终止

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2008-04-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-10-18

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明总体上涉及计算机断层扫描(CT:computed tomography)成像,更具体地涉及减少多切片CT成像系统中的x射线照射量(exposure)。

背景技术

至少在一种已知的CT成像系统的结构中,x射线源把准直(collimate)的扇形射束投射到笛卡儿坐标系的X-Y平面内,该平面通常称为“成象平面”。x射线束通过被成象的对象,例如患者。射束被该对象衰减后照射到辐射检测器阵列上。检测器阵列上接收的衰减射束辐射的强度取决于该对象对x射线束的衰减。每一个阵列检测器元件产生该检测器位置上射束衰减的测量值的独立电信号。分别获得来自所有检测器的衰减测量值以产生透射轮廓(profile)。

在已知的第三代CT系统中,x射线源和检测器阵列随着门架(gantry)在成象平面内围绕被成象的对象转动,以便x射线束与对象相交的角度不断变化。在一个门架角度上、来自检测器阵列的一组x射线衰减测量值即投影数据称为一个“视图”。对象的“扫描”包括x射线源和检测器旋转一周过程中不同门架角度或视图角度处产生的视图集。

在轴向扫描中,对投影数据进行处理,构建对应于从对象上获得的二维切片图像。一种从投影数据集重建图像的方法在本领域称为滤波背投影技术。这一处理方法把来自扫描的衰减测量值变换为称为“CT数值”或“Hounsfield单元”的整数,这些整数被用于控制显示器上相应像素的亮度。

为了减小多个切片所需的总扫描时间,可以进行“螺旋”扫描。为了进行“螺旋”扫描,患者在Z轴方向上的移动与门架的旋转同步进行,同时采集规定数目切片的数据。这样的系统从一束扇形射束的螺旋扫描中产生单个螺旋线。由扇形射束绘出的螺旋线产生投影数据,通过所述投影数据可以重建每个规定切片中的图像。除了减少扫描时间外,螺旋扫描还提供其他的优点,例如注射对比物的更好利用,在任意位置处改善的图像重建,和更好的三维图像。

为进一步减少整个采集时间,引入了多切片CT。在多切片CT中,在任意时间同时采集多行投影数据。当与螺旋扫描方式结合时,该系统产生锥形射束的单个螺旋线投影数据。类似于单切片螺旋加权方案,可以在滤波背投影之前对投影数据“加权”。这样,一个技术效果是生成了被扫描对象的体积CT三维(3D)图像。

多切片CT系统用于在一次扫描过程中获取更多切片的数据。已知的多切片系统典型地包括通常称为3-D检测器的检测器。关于这样的3-D检测器,多个检测器元件形成按行和列排列的单独的通道。每行检测器形成一个单独的切片。例如,一个两切片检测器具有两行检测器元件,一个四切片检测器具有四行检测器元件。在多切片扫描过程中,多行检测器单元同时被x射线束照射,从而得到多个切片的数据。

在已知的CT系统中,来自x射线源的x射线束投射通过患者前面的准直装置,或准直器,该准直装置或准直器在患者轴或z-轴上定义x射线束的轮廓。准直器包括x射线吸收材料,该材料其内具有用于限制x射线束的孔径。将x射线束限制为期望的扇形轮廓的处理过程称为“准直”。

关于限制x射线束,已知的准直器典型地包括可以打开和关闭来改变孔径宽度的两个相对的金属叶片或偏心凸轮。可以通过调整叶片或凸轮的方位选择扇形射束沿z-轴测量的“厚度”。叶片或凸轮还可以在同一方向上移动来转移孔径的中心线。改变孔径中心线就改变了扇形射束相对z-轴的角度。

当用多切片CT扫描器进行螺旋扫描时,检测器行顺序地螺旋进入成像区,并且照射到成像区之外的检测器行上的x射线是没有用的。也就是说,射束的z-轴长度超过了所产生图像的z-轴长度。这种无用的照射或剂量在螺旋扫描的开始和结束时都发生,并且螺旋过扫描的量随着多切片检测器的宽度的增加而增加。

发明内容

在一个实施例中,提供了在使用计算机断层扫描系统进行扫描过程中用于控制x射线照射的位于患者前面的(pre-patient)准直器。所述系统包括x射线源和检测器阵列。所述准直器包括:在第一方向上关断由x射线源产生的x射线扇束的第一凸轮,位于x射线源焦点的与第一凸轮相对的一侧的第二凸轮,第二凸轮在第二方向上关闭x射线扇束,第二方向与第一方向相反,和配置成在扫描过程中定位第一凸轮和第二凸轮中的至少一个的凸轮驱动器。

在另一个实施例中,提供了用于在计算机断层扫描系统中减少x射线照射或剂量的系统。所述系统包括x射线源、包括沿z-轴延伸的多个检测器单元的检测器阵列、和具有用x射线吸收材料制成的光闸凸轮和跟踪凸轮的位于患者前面的准直器,其中所述系统配置成确定患者平台沿z-轴的速度,并在扫描过程中利用所确定的平台速度定位所述光闸凸轮和跟踪凸轮中的至少一个来限定导向被成像对象的扇形射束的厚度。

在另一个实施例中,提供了在计算机断层扫描系统中控制x射线剂量的方法。所述系统包括可沿z-轴转移的患者平台和具有用于限定孔径的第一和第二凸轮的准直器。所述方法包括以与所述平台的转移速度成比例的速度打开所述第一凸轮,和以与所述平台的转移速度成比例的速度关闭所述第二凸轮。

附图说明

图1是多切片体积CT成像系统的形象化视图;

图2是图1所示的多切片体积CT成像系统的方框示意图;

图3是图1所示的CT成像系统的典型实施例的轴向视图;

图4是检测器阵列的典型实施例,如图2所示的检测器阵列,的透视图;

图5是可用于图4所示的检测器阵列的典型检测器模块的放大透视图;

图6是图1所示CT成像系统的典型实施例的示意侧视图;

图7是图1所示CT成像系统的典型实施例的侧面示意图;

图8是表示典型的光闸操作模式的时间推移时序图;

图9是表示图8所示典型的光闸操作模式的后续时间推移时序图。

具体实施方式

除非明确说明,在此以单数形式表达并用单词“a”或“an”来描述的元件或步骤应当理解为不排除多个所述元件或步骤。另外,提及本发明的“一个实施例”不意味者排除结合了所描述特征的其它实施例。

在此使用的短语“重建图像”也不意味着排除本发明中已生成了代表图像的数据但没有生成可视图像的实施例。因此,在此使用的术语“图像”泛指可视图像和代表可视图像的数据。然而,许多实施例生成(或配置成用于生成)至少一个可视图像。

图1是多切片体积CT成像系统10的形象化视图。图2是图1所示的CT成像系统10的方框示意图。在典型的实施例中,CT成像系统10表示为包括代表“第三代”CT成像系统的门架12。门架12有一个辐射源14,它向位于门架12相对一侧上的检测器阵列18投射锥形x射线束16。

检测器阵列18由多个包括多个检测器模块20的检测器行(未示出)形成,该多个检测器模块20一起感测穿过如医疗患者22的对象投射的X射线束。每个检测器模块20包括检测器元件(不可见),这些检测器元件产生表示入射辐射束强度的电信号,由此表示射束穿过对象或患者22时的衰减。具有多切片检测器阵列18的CT成像系统10能够提供多个表示患者22的图像。该多个图像中的每一个对应于一个单独的体积“切片”。切片的“厚度”或孔径取决于检测器行的厚度。

在进行扫描以采集辐射投影数据的过程中,门架12和安装在其上的部件围绕旋转中心24旋转。图2仅示意了单行检测器元件(即一个检测器行)。但是,多切片检测器阵列18包括检测器元件的多个并排的的检测器行以使与多个准平行或平行的切片相对应的投影数据能在一个扫描过程中同时采集。

门架12的旋转和辐射源14的操作由CT成像系统10的控制机构26来管理。控制机构26包括向辐射源14提供电能和定时信号的辐射控制器28和控制门架12旋转速度和位置的门架马达控制器30。控制机构26内的数据采集系统(DAS)32对来自检测器元件的模拟数据采样并将该数据转换为数字信号用于随后的处理。图像重建器34从DAS 32接收采样和数字化的辐射数据并执行高速的图像重建。重建的图像作为输入施加给计算机36,计算机36将所述图像存储在大容量存储设备38中。

计算机36还通过带有键盘的控制台40接收来自操作者的命令和扫描参数。相关联的显示器42允许操作者观察来自计算机36的重建图像和其他数据。计算机36利用操作者提供的命令和参数向DAS 32、辐射控制器28和门架马达控制器30提供控制信号和信息。另外,计算机36操作平台马达控制器44,该平台马达控制器44控制电动平台46,从而在门架12内定位患者22。具体的说,平台46移动患者22部分通过门架开口48。

在一个实施例中,计算机36包括如软盘驱动器或CD-ROM驱动器的设备50,该设备用于从计算机可读介质如软盘或CD-ROM中读取指令和/或数据。在另一个实施例中,计算机执行存储在固件(未示出)里的指令。通常,在图2所示的DAS 32、重建器34、和计算机36中的至少一个中的处理器被编程用于执行下面所述的处理。当然,该方法不局限于在CT成像系统10中实施,可与许多其他类型且不同的成像系统一起使用连接。在一个实施例中,将计算机36编程用于执行在此所述的功能。因此,在此所用的术语计算机不局限于仅仅是那些本领域称为计算机的集成电路,而是泛指计算机、处理器、微控制器、微型计算机、可编程逻辑控制器、专用集成电路、和其他可编程电路。

以下描述是对根据本发明的一个实施例的典型多切片CT系统的说明。虽然在下文中详细描述了系统的一个实施例,应当理解可能有许多本发明的替换实施例。例如,虽然描述了一个特定的检测器和一个特定的患者前面的准直器,但其他检测器或准直器也可与本系统一起使用,本发明不局限于采用任何一种特定类型的检测器来实施。具体的说,下文所述的检测器包括多个模块并且每个模块包括多个检测器单元。除了下文所述的特定检测器,也可采用沿z-轴具有不分段单元的检测器,和/或具有多个模块20的检测器,该模块20沿x-轴和/或z-轴具有沿上述两方向中任一方向上连接在一起的多个元件以便同时采集多切片扫描数据。通常,该系统可在多切片模式下操作来收集一个或更多切片的数据。可用该系统执行轴向和螺旋扫描,以及可以处理、重建、显示和/或存档被扫描对象的截面图像。

图3是CT成像系统10的典型实施例的轴向视图。对于辐射源14的操作,x射线束16从辐射源14的焦点50发射。X射线束16由患者前面的准直器52准直,准直后的射束54沿中心位于x射线束16中的扇形射束轴56向检测器阵列18投射。

检测器阵列18和准直器52可配置成使CT成像系统10减少对患者22的x射线剂量。具体地说,通过在一个扫描过程中配置检测器阵列18和动态调整准直器52,CT成像系统10将射束54的z-轴尺寸减少到易于减少过扫描(即照射到成像区外的行)的厚度。

具体地,对于一种示例检测器,图4是例如检测器阵列18(图2所示)之类检测器阵列的典型实施例的透视图。图5是可用于检测器阵列18的典型检测器模块20的放大透视图。每个检测器模块20通过板60固定到检测器壳体58上。每个模块20包括多维闪烁器阵列62和高密度半导体阵列(不可见)。患者后面的准直器(未示出)位于闪烁器阵列62上方并且与之邻近,以便在x射线束入射到闪烁器阵列62之前准直该射束。闪烁器阵列62包括多个排列成阵列的闪烁元件,并且所述的半导体阵列包括多个排列成同样阵列的光电二极管(不可见)。光电二极管沉积或形成在衬底64上,并且闪烁器阵列62位于衬底64上方并固定到其上。

检测器模块20还包括与译码器68电耦合的开关装置66。开关装置66是与光电二极管阵列尺寸相近的多维半导体开关阵列。在一个实施例中,开关装置66包括场效应晶体管阵列(未示出),其中每个场效应晶体管(FET)有输入端、输出端和控制线(未示出)。开关装置66耦合在光电二极管阵列与DAS 32之间。具体地说,每个开关装置FET的输入端电连接到光电二极管阵列的输出端并且每个开关装置的FET输出端电连接到DAS 32,例如使用柔性电缆70进行电连接。

译码器68控制开关装置66的操作以便根据所需切片的数目和每个切片的分辨率来使能、禁止或组合光电二极管阵列的输出。在一个实施例中,译码器68是一种本领域已知的译码器芯片或FET控制器。译码器68包括多个与开关装置66和计算机36耦合的输出线和控制线。具体地说,译码器的输出端电连接到开关装置的控制线,使开关装置66能够从开关装置的输入端向开关装置的输出端传输正确的数据。译码器控制线电连接到开关装置的控制线,并决定译码器的哪个输出端被使能。通过使用译码器68,使能、禁止或组合开关装置66中指定的FET,以使光电二极管阵列的指定输出端电连接到CT系统的DAS32上。在一个定义为16个切片模式的实施例中,译码器68使能开关装置66,以使光电二极管阵列的全部行电连接到DAS 32上,使16个单独的、同时的切片数据发送到DAS 32。当然,也可能有许多其他切片组合。

在一个特定实施例中,检测器阵列18包括57个检测器模块20。每个光电二极管阵列和闪烁器阵列62的阵列大小都是16×16。结果,检测器阵列18有16行和912列(16×57个模块),这使得在门架12的每一次旋转过程中收集16个同时的切片数据。当然,本发明不局限于任何特定的阵列大小,而是希望根据特定操作者的需要阵列可大可小。检测器阵列18还可以在许多不同的切片厚度和不同数量模式下进行工作,如一、二和四个切片模式。例如,可在四切片模式下配置FET,以使从光电二极管阵列的一行或更多行中对四切片进行数据搜集。根据译码器控制线限定的FET的具体结构,可以使能、禁止或组合光电二极管阵列输出的多种不同组合,从而使切片厚度可以是例如1.25mm、2.5mm、3.75mm或5mm。另外的实例包括:切片范围从1.25mm厚到20mm厚的包含一个切片的单切片模式,和切片范围从1.25mm厚到10mm厚的包含两个切片的两切片模式。上述模式之外的其他模式也是可以的。

图6是CT成像系统10的典型实施例的示意性侧视图。准直器52包括第一偏心凸轮、光闸凸轮81和第二偏心凸轮、跟踪凸轮82,用于调整它们之间的孔径106。沿平台46运动的方向,光闸凸轮81位于准直器52的后侧。凸轮81和82的位置由准直器控制器(未示出)控制,该准直器控制器从辐射控制器28接收命令。具体地说,准直器控制器包括凸轮驱动器或至少一个凸轮马达104和/或105,所述的马达用于分别改变凸轮81和82的位置。另外,在一个实施例中,准直器控制器包括用于控制凸轮驱动器并与辐射控制器28交换信息的处理单元或逻辑电路。在一个可替换的实施例中,凸轮驱动器可由辐射控制器28直接控制。

凸轮81和82位于扇形射束轴56的相对两侧,并且可以就凸轮81和82之间的间隔以及它们相对于扇形射束轴56的位置独立调整。凸轮81和82可由单个凸轮驱动器定位,或可替换地,每个凸轮可由单独的凸轮驱动器定位。例如在一个实施例中,独立的凸轮马达104和105连接到相应的凸轮81和82用于精确控制凸轮81和82的位置以使每个凸轮能单独定位。在另一个实施例中,准直器52可以包括另外的凸轮并且每个凸轮可以耦合到用于改变凸轮位置的单独的凸轮驱动器上,例如凸轮马达或致动器。凸轮81和82由x射线吸收材料制成,例如钨,并用精密滚珠轴承(未示出)耦合到凸轮马达。

图7是CT成像系统10的典型实施例的侧面示意图。可在光闸模式下通过用准直器52阻塞x射线束16中射向所述未使用行的部分,和恰好在这些未使用行进入待成像区之前解除阻塞该x射线束部分的方式减少螺旋过扫描长度。类似的,当所述未使用行螺旋出成像区时,可以通过阻塞x射线束16中射向这些未使用行的部分来减少螺旋过扫描长度。

在扫描开始时,图7中用相对位置‘A‘表示,沿移动方向的平台后端由光闸凸轮81尽可能的关闭孔径106,在平台的前端由跟踪凸轮82充分打开孔径106。当扫描开始时,光闸凸轮81以与平台速度成比例的速度打开整个孔径106。当扫描完成时,跟踪凸轮82以与平台速度成比例的速度关闭孔径106,用相对位置‘B‘表示。方向701表示在一次螺旋扫描过程中辐射源14和患者22之间相对位置变化的典型方向。角度θ1表示在凸轮81关闭而凸轮82打开时x射线束16的角度。角度θ2表示在凸轮81打开而凸轮82关闭时x射线束16的角度。跨度702表示在一次扫描过程中没有凸轮81和82操作的情况下患者22曝露于x射线的部分。跨度704表示在一次扫描过程中凸轮81和82操作以阻塞x射线到达患者22在x射线束16范围内而不在CT成像系统10的成像区内的部分时,患者22曝露于x射线的部分。通过将x射线束16的宽度减少到一个宽度以降低对患者22在CT成像系统10的成像区之外的部分的照射,辐射凸轮81和82的操作易于减少对患者22的辐射。

图8是表示典型的光闸操作模式的时间推移时序图。该光闸操作模式包括多个时序。在典型实施例中,用位于第一成像位置803的测试对象802来示意该光闸模式。对象802具有厚度804和与图像扫描视场(SFOV)相同的直径805,例如直径为250mm或500mm。另外,在所描述的实施例中,测试对象802的纵轴807基本上与轴24成一条直线。在典型的示意图中,如果患者22或测试对象802位于门架12的中心,那么直径806基本上等于SFOV。但是,在不同的替换实施例中,患者22或测试对象可以不居中以使纵轴807基本上不与轴24成一条直线。在这种情况下,可以改变SFOV假设来解决最长的偏离中心患者半径。可替换地,如果可获得/和或可确定关于患者尺寸和位置的详细信息,凸轮81和82的顺序可以作为角度θ的函数来改变,从而解决变化的患者中心和每个视图中不对称的问题。在时序1中,光闸凸轮81尽可能的关闭以允许相对狭窄的x射线束16正好在(source_to_iso+SFOV/2)处与对象802的前边缘806相交,其中source_to_iso是从焦点90到对象802的等角点的距离。当对象802移动穿过x射线束16时,其接近由光闸凸轮81限定的射束边缘808,时序2中的B。对象802的下缘810限制凸轮81的位置直到前边缘806穿过检测器的中心线,时序3中的C。在时序4中中的这个点,在(source_to_iso-SFOV/2)处对象802处于x射线束16的边缘808。光闸凸轮81继续打开直到在时序5中的T位置处完全打开,在此时间跟踪回路将开始控制光闸凸轮81。角度θ代表在凸轮81和82之间限定的x射线束16的角度。

光闸的操作模式可以包括扫描起始部分的四个操作区域。

t0<t<tB   不移动,从时序1到2

tB<t<tC   慢关断区,从时序2到3

tC<t<tT   快关断区,从时序3到5

t>tT        跟踪,时序5

其中,

用t和z结合下标表示时间和位置:

t0是t=0或当搜集第一个视图的时间。

tB是在扫描过程中当对象穿过最小孔径的时间(B)。

tC是当对象穿过检测器的中心线的时间(C)。

tT是当对象穿过整个孔径进入跟踪区的时间(T)。

B和T将由下标cam、iso或det标注来表示合适的放大率(magnification)。

凸轮从B到C的近似速度可由下式确定:

>>>V>BC>>=>>(>>>source>_>to>_>cam>>>source>_>to>_>iso>+>SFOV>/>2> >)>>*>table>_>speed>,> >其中

source_to_cam是从射线源焦点到相关的凸轮的z-轴极限的距离;和source_to_iso表示射线源焦点和对象802的等角点之间的距离。凸轮从C到T的近似速度可由下式确定:

>>>V>CT>>=>>(>>>source>_>to>_>cam>>>source>_>to>_>iso>->SFOV>/>2> >)>>*>table>_>speed> >

凸轮位置是理论上允许的最小凸轮位置以避免在图像中引入伪差。凸轮必须一直在这个位置处或其前面。

0<t<tB      Bcam

tB<t<tC    Bcam+(t-tB)*VBC

tC<t<tT    Bcam+(tC-tB)*VBC+(t-tC)*VCT

t>tT         Tcam

定时

>>>z>0>>>>=>T>>iso>>*>>>source>_>to>_>iso>+>SFOV>/>2>>>source>_>to>_>iso> > >

>>>z>B>>=>>B>iso>>*>>>source>_>to>_>iso>+>SFOV>/>2>>>source>_>to>_>iso> > >

>>>z>T>>=>>B>iso>>*>>>source>_>to>_>iso>->SFOV>/>2>>>source>_>to>_>iso> > >

tB=(zB+z0)/table_speed

tC=z0/table_speed

tT=(zT+z0)/table_speed

应当注意z表示偏移量。对象不在检测器中心线上z=0处开始。类似地,B是有符号值并且在本文中应该是负值。在纵轴807基本上不与轴24在一条直线上的多种实施例中,可调整上面所述的公式以解决轴807与轴24之间位置的简单几何偏差。

图9是表示图8所示典型的光闸操作模式的后续时间推移时序图。在扫描结束时通过程序控制关断的发生。跟踪凸轮82停止跟踪并且除了方向相反之外与扫描开始期间光闸凸轮81所起的作用基本相同。光闸凸轮81在扫描的末期保持跟踪。t现在表示扫描的剩余时间,整个关断过程相反。

t>tT             跟踪

tC<t<tT        快关断区

tB<t<tC        慢关断区

t0<t<tB        不移动

在时序5中,光闸凸轮81完全打开并且跟踪回路将开始控制光闸凸轮81。在时序6中的这一点,对象802的后边缘902在x射线束16的边缘812处。对象802的上边缘814限制凸轮82的位置直到对象802穿过检测器的中心线,时序7中的C。当对象802移动穿过x射线束16时,其靠近由光闸凸轮82限定的射束边缘812,时序2中的B。在时序9中光闸凸轮82尽可能的关闭以允许相对狭窄的x射线束16正好与对象802的后边缘902相交。在扫描结束时,对象802继续穿过x射线束16以便退出。

上述成像系统的实施例提供了用于检查患者的有成本有效且可靠的装置。更具体地,成像系统包括一对可动态定位的凸轮,在z-轴该凸轮使x射线束成形以使对患者的剂量容易地减少。

上文详细描述了成像系统方法和装置的典型实施例。所描述的成像系统部件不局限于这里的特定实施例,而是每个成像系统的部件都可与在此描述的其他部件独立地分开使用。例如,上述成像系统部件也可与不同的成像系统结合使用。在此描述的本系统和方法的不同实施例的技术效果包括利于在扫描过程中减少对患者的x射线剂量。

尽管本发明已经用不同特定的实施例方式进行了说明,本领域技术人员应当认识到也可用在权利要求书的精神和范围内的修改形式实施本发明。

            附图标记说明

CT成像系统                        10

门架                              12

x射线源                           14

x射线束                           16

检测器阵列                        18

检测器模块                        20

患者                              22

控制机构                          26

辐射控制器                        28

门架马达控制器                    30

DAS                               32

图像重建器                        34

计算机                            36

大容量存储设备                    38

控制台                            40

显示器                            42

平台马达控制器                    44

平台                              46

门架开口                                48

焦点                                    50

设备                                    50

准直器                                  52

准直后的射束                            54

扇形射束轴                              56

检测器壳体                              58

板                                      60

闪烁器阵列                              62

衬底                                    64

开关装置                                66

译码器                                  68

电缆                                    70

凸轮                                    81

凸轮                                    82

焦点                                    90

凸轮马达                                104

凸轮马达                                105

孔径                                    106

方向                                    701

跨度                                    702

跨度                                    704

对象                                    802

成像位置                                803

厚度                                    804

直径                                    805

前边缘                                  806

射束边缘                                808

下边缘                                  810

边缘                                    812

上边缘                                814

后边缘                                902

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