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一种电子束缩小投影曝光成像系统

摘要

本发明涉及一种可实现50纳米以下分辨率的电子束缩小投影曝光成像系统,包括电子枪、聚光镜、照明物镜、非对称缩小投影成像物镜以及物镜光阑,其中该电子枪发出的电子经过聚光镜和照明物镜均匀照射在掩模上,通过缩小投影成像物镜和物镜光阑,在硅片上得到曝光图型,其特征在于:该缩小投影成像物镜由非对称磁透镜组成,第一透镜和第二透镜的励磁电流相反,在透镜的下部设有磁屏用以屏蔽漏磁。本发明通过适当位置设计磁屏的设计方法,解决了由于增加磁透镜的极间距(S)和极靴孔的直径(D)产生的漏磁问题和修正电磁场分布,限制LA和IA满足其远心的成像光学系统的要求,在减少像差的同时,不带来附加的畸变。实现了高分辨率和高产率。

著录项

  • 公开/公告号CN1567091A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电工研究所;

    申请/专利号CN03137518.9

  • 发明设计人 李艳秋;

    申请日2003-06-09

  • 分类号G03F7/20;H01L21/027;

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 100080 北京市中关村二条6号

  • 入库时间 2023-12-17 15:47:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-09-23

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-07-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-01-19

    公开

    公开

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