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具有自行对准金属硅化物组成单位的罩幕式只读存储器的制造方法

摘要

一种高密度罩幕式只读存储器组件以及利用自行对准金属硅化物工艺来制造高密度罩幕式只读存储器组件的方法。此方法系包括埋入式位线N+、可形成非可编程存储单元的厚氧化层、已去除厚氧化层而可形成可编程存储单元的薄栅极氧化层、作为字符线的多晶硅栅极结构以及沉积的单一金属硅化层。因为只需沉积一层金属硅化物,而简化了工艺。在上述的只读存储器组件中的字符线与部分埋入式位线上形成有硅化金属层,而此硅化金属层可降低位线与字符线之间的电阻,因而可加快上述只读存储器组件的存储单元的操作速率。

著录项

  • 公开/公告号CN1378275A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2002-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华邦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN01109540.7

  • 发明设计人 萧建铭;

    申请日2001-03-30

  • 分类号H01L21/8246;H01L21/8247;H01L27/112;

  • 代理机构北京集佳专利商标事务所;

  • 代理人王学强

  • 地址 台湾新竹科学工业园区研新三路四号

  • 入库时间 2023-12-17 14:27:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/8246 授权公告日:20040609 申请日:20010330

    专利权的终止

  • 2004-06-09

    授权

    授权

  • 2002-11-06

    公开

    公开

  • 2001-11-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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